測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
新聞資訊
News時間:08-11 2023 來自:祥宇精密
在制造行業(yè),三坐標測量儀是一種高精度的測量設備,用于測量各種工件和零件的尺寸、形狀和位置精度。由于長時間使用和各種因素的影響,三坐標測量儀的精度會逐漸降低,因此需要進行校準。本文將介紹常見的三坐標測量儀校準方法。
一、常規(guī)校準方法
測針校準
測針校準是三坐標測量儀校準的一種常見方法,通過使用標準球進行測針的校準,以確定測針的直徑和形狀誤差,保證測量的精度。
測頭校準
測頭校準是通過使用標準球進行測頭的校準,以確定測頭的直徑和形狀誤差,保證測量的精度。
位置校準
位置校準是通過對三坐標測量儀的三個軸的移動進行校準,以保證其移動的精度和重復性。
二、先進校準方法
光學校準
光學校準是利用光學干涉儀對三坐標測量儀的測頭進行校準,可以獲得更高的校準精度。
熱校準
由于三坐標測量儀在使用過程中會受到溫度的影響,因此需要進行熱校準。熱校準是通過使用標準溫度計和熱膨脹系數(shù)計對三坐標測量儀進行校準,以保證其在不同溫度下的測量精度。
空氣校準
空氣校準是通過對三坐標測量儀的空氣軸承進行校準,以消除其空氣誤差和溫度誤差,提高測量的精度。
總之,三坐標測量儀的校準是保證其測量精度的重要步驟。在進行校準時,需要根據(jù)具體的設備和要求選擇合適的校準方法,以達到最佳的校準效果。同時,定期的校準也可以延長三坐標測量儀的使用壽命,提高其使用效率。
400-801-9255